產學合作專案是台積公司人才培育的重要平台。為孕育產業人才，民國109年11月，台積公司品質暨可靠性組織捐贈雙鎗型離子束顯微鏡（Dual-Beam FIB Microscope）予國立交通大學，成為國立交通大學第一台高解析度離子束顯微鏡。藉由雙鎗型離子束顯微鏡，未來國立交通大學研究人員可直接於八吋晶圓上進行取樣，透過離子束精確的剖析，影像解析度可達4奈米，運用掃描式電子顯微鏡即時觀察，大幅提升材料分析效能與成功率。…